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仪卡墨 M-SWIR系列短波红外显微镜,采用 InGaAs 红外成像方案,900-1700nm 波段实现硅材料穿透式无损观测,无需破坏芯片样品,高效检测晶圆隐裂、芯片内部裂纹、空洞、线路···
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JM462三目大平台正置金相显微镜,配置 8 英寸大行程载物台,支持大工件检测;内置推拉式偏光组件,自由切换明场 / 偏光观察。采用无限远平场消色差光学系统,30° 倾斜三目···
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JM580BD科研级晶圆检测显微镜搭载无限远半复消光学系统,支持明场/暗场/偏光/DIC 微分干涉观测,8 英寸大工作台,适用于晶圆、芯片、FPD、PCB 切片缺陷检测与金相量化分析。···
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仪卡墨光学JM700原位电化学枝晶显微镜,搭载密封式原位电化学观测池,支持移入手套箱;充放电工况下原位观测锂、钠、钾、锌金属负极枝晶生长演化,适配锂金属电池、水系锌离···
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COMP8D刑侦电动比对显微镜搭载双通道独立光学系统,0-150mm桥体电动升降,支持三种观测比对模式,用于枪弹痕迹、工具痕迹、印章文检、钱币防伪、零部件比对,可搭配工业相机···
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仪卡墨光学COMP8A比对显微镜是专业双通道光学比对设备,依靠对称双光路同步观测两件样品,支持单视场、分割对接、图像重叠三种比对模式,清晰分辨检材微观纹路与形态差异。···
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仪卡墨PHD500科研级倒置相衬显微镜,人体工学紧凑型机身,搭载集成 IPC 相衬系统,兼容微孔板、培养皿、多层细胞工厂。高配带物镜编码自动调光,无限远消色差光路,适配细胞···
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FL3GB研究级正置荧光显微镜,明场+落射荧光一体观测。无限远平场光学系统,标配DAPI、FITC、TRITC三套荧光滤片,可选配Texas Red、CY5通道;LED 长效光源,三目可接科研相机···
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